한국NI, 최신 반도체 테스트 솔루션 공개

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한국NI, 최신 반도체 테스트 솔루션 공개

디지털데일리 발행일 2017-02-02 19:03:18

이수환

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[전자부품 전문 미디어 인사이트세미콘]

내쇼날인스트루먼트(ni.com/korea 지사장 이동규)가 오는 8일부터 10일까지 서울 삼성동 코엑스에서 개최되는 반도체 산업 전시회 ‘세미콘 코리아 2017’에 참가해 반도체 테스트 통합 솔루션과 데모를 선보인다고 밝혔다.

이번 전시회에서 한국NI는 반도체 테스트 비용을 절감하고 시간을 단축하며 측정 정확성을 확보할 수 있는 최신 솔루션을 공개할 예정이다. 테스트 전 과정에 걸쳐 효율성을 높여 주고 각종 문제점을 손쉽게 해결해 준다.

NI STS(Semiconductor Test System)는 대표적인 솔루션으로 반도체 양산 환경에서 사용할 수 있다. 기존의 대형 ATE보다 작은 작업 공간에서 사용 가능하며 전력소비량과 유지보수 노력을 줄여준다.

또한 고성능 테스트가 가능하기 때문에 보다 복잡한 기능이 요구되는 무선(RF) 파워 앰프(Power Amplifier), 전력관리반도채(PMIC)와 같은 RF/아날로그 중심 반도체의 RF 및 혼합 신호 테스트에 적합하다. 더불어 NI WTS(Wireless Test System)는 사물인터넷(IoT) 기기의 다양한 무선 통신 규격을 동시에 테스트할 수 있다.

<이수환 기자>shulee@ddaily.co.kr