NI, 반도체 테스트 시장 공략 가속화

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NI, 반도체 테스트 시장 공략 가속화

디지털데일리 발행일 2016-08-05 08:35:31

이수환

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내쇼날인스트루먼트(NI)는 ‘PXIe-6570 디지털 패턴 계측기(Digital Pattern Instrument)’와 ‘디지털 패턴 편집기(Digital Pattern Editor)’를 선보였다고 4일(현지시각) 밝혔다. 이 제품은 RFIC, 전원 관리 IC, 미세전자기계시스템(MEMS) 디바이스, 혼합 신호 IC 제조사가 기존 반도체 자동화 테스트 장비(ATE)의 폐쇄형 아키텍처에서 벗어나 개방형 아키텍처로 이행할 수 있도록 지원한다.

최신 반도체 디바이스의 요구사항은 기존 ATE가 제공하는 테스트 적용 범위를 벗어나는 경우가 많다. NI는 반도체 업계의 기존 디지털 테스트 패러다임을 STS(Semiconductor Test System)에 사용되는 개방형 PXI 플랫폼에 적용하고, 이를 사용자 편의성을 갖춘 패턴 편집기와 디버거로 발전시켜 고객이 최첨단 PXI 계측기를 사용해 테스트 비용을 줄이고 무선(RF) 및 아날로그 IC 출력을 개선할 수 있게 했다.

NI PXIe-6570 디지털 패턴 계측기는 무선 장비 공급망과 사물 인터넷 디바이스에서 흔히 사용되는 IC용 테스트 기능을 경제적인 가격으로 제공한다. 독립 소스로 초당 100 M벡터 패턴을 실행하며 단일 하위 시스템에서 최대 256개의 동기화된 디지털 핀으로 엔진 및 전압/전류 파라미터 함수를 수집한다.

PXI 및 STS의 개방성을 활용하면 필요한 만큼만 디바이스를 추가하여 테스트 구성에 필요한 디바이스 핀 및 사이트 개수를 충족시킬 수 있다.

또한 새로운 디지털 패턴 편집기 소프트웨어는 디바이스 핀 맵, 사양 및 패턴의 편집 환경을 통합하여 테스트 계획 개발을 보다 빠르게 지원한다. 랩뷰와 테스트 스탠드 소프트웨어 환경의 생산성과 파트너, 애드온 설계자산(IP), 애플리케이션 엔지니어로 구성된 활발한 에코시스템의 장점을 활용하면, 테스트 비용을 줄이고 시장 출시 시간을 단축하며 까다로운 RF 및 혼합 신호 테스트 요구사항에 미리 대비할 수 있다.

<오스틴(미국)=이수환 기자>shulee@insightsemicon.com